沖擊試樣缺口投影機 型號：CST-50

 是為檢查夏比V型或U型沖擊試樣缺口質(zhì)量而設(shè)計、開發(fā)的一種專用光學(xué)儀器，與刻在投影屏上的沖擊試樣缺口標(biāo)準樣板圖進行對比，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，對比直觀，操作簡單，效率高。是理化試驗室的*專用設(shè)備。

技術(shù)參數(shù)：
     投影屏： 200×200mm             放大倍數(shù)： 50X
     光源： 12V 100W（鹵鎢燈）        電源： 220V 50Hz 150W
  外型尺寸： 515×224×603mm             重量： 約18Kg